/**
 * @file device/ADC.cpp
 * @brief 底层设备驱动与外设封装源文件
 * @note 本文件仅补充 Doxygen 文档注释，不改变代码逻辑。
 */

#include "adc.h"
#include "Can.h"
#include "FOC.h"
#include "Filter.h"
#include "config.h"
#include "initial.h"
#include "math.h"
#include "systick.h"
#include <cstdint>
#include <cstdio>
#include <cstring>

// ADC 换算常量均为编译期常量，非可变全局状态。
// 用于 ADC 原始值到电压、温度、电流的固定比例换算。
/** @brief ADC_SCALE 常量定义 */
constexpr float ADC_SCALE = 3.3f / 4096.0f;
/** @brief TEMP_FACTOR 常量定义 */
constexpr float TEMP_FACTOR = 1000.0f / 4.3f;
/** @brief VCC_FACTOR 常量定义 */
constexpr float VCC_FACTOR = 11.0f;
#if GATE_DRIVER_DRV8323
/** @brief CURRENT_FACTOR 常量定义（新板：DRV8323 片上 CSA）
 *  SOx = VREF/2 ± I×R×G（SPI 已配置 VREF_DIV=1、GAIN 见 config.h）。
 *  ADC_SCALE 输出为伏特，故系数单位为 mA/V = 1000/(G×R)：
 *  G=10V/V、R=10mΩ → 10000 mA/V，量程约 ±16.5A。
 *  修改 config.h 的 DRV8323_CSA_GAIN_VV 后此系数自动跟随。 */
constexpr float CURRENT_FACTOR =
	1000.0f / (DRV8323_CSA_GAIN_VV * DRV8323_SHUNT_OHM);
#elif CURRENT_SENSE_INA240
/** @brief CURRENT_FACTOR 常量定义（低边采样板：下桥臂 10mΩ + INA240A2）
 *  电流链路单位为安培：get_current() 返回 A，cal_Iq_Id/Can 上报处 ×1000 转 mA。
 *  OUT = 1.65V ± I×R×G（REF1=AGND、REF2=A3V3，芯片内部分压取中点 1.65V），
 *  G=50V/V、R=10mΩ → 0.5V/A → 2.0 A/V，ADC 3.3V 满量程对应约 ±3.3A。
 *  与老板外置放大链（50倍×10mΩ）标定数值恰好一致；换增益/阻值时此系数
 *  随 config.h 的 INA240_CSA_GAIN_VV / INA240_SHUNT_OHM 自动跟随。 */
constexpr float CURRENT_FACTOR =
	1.0f / (INA240_CSA_GAIN_VV * INA240_SHUNT_OHM);
#else
/** @brief CURRENT_FACTOR 常量定义（老板：外置放大链，保持原标定） */
constexpr float CURRENT_FACTOR =
	1.0f / 50.0f * 100.0f; // 50倍放大，100倍电流采样电阻, 单位mA
#endif
extern CAN_transmiter CAN0_transmiter;
extern FOC_Controller FOC;

// 全局采样器单例：系统只有一组 ADC 采样缓存，由 hardware_init() 调用 sampler.init() 初始化。
// ADC0 只跑 injected 组（PWM 同步）：中断写 adc_current_value[]（U/V/W）与
// adc_mcu_temp_raw（温度，挂注入序列尾部同步转换）并置位 adc_current_frame_ready。
// VBUS / DRV温度 由 ADC1 在慢速任务中软件触发轮询，与电流采样彻底隔离。
// 背景：此前温度/VBUS/DRV 放在 ADC0 regular 组连续扫描，与 injected 抢占同一 ADC。
// 温度通道提到 239.5 周期后，稳态下注入触发几乎必然打断温度采样中段：
// regular 被打断后从 rank0 重启而 DMA 计数不复位 → adc_value[] 数据错位；
// 采样电容长期挂在高内阻温度源电压上，干扰注入组首通道 → 相电流检测故障。
sampler sampler;		// 采样器初始化
volatile u16 adc_mcu_temp_raw = 0;	  // ADC0 injected rank3: MCU温度原始值
static volatile u16 adc_current_value[3] = {0}; // injected 同步采样: U / V / W
static volatile u8 adc_current_frame_ready = 0;

// ---- 三相电流零点配平结果（上电一次，hardware_init 在 gate_driver_bringup
// 之后调用 zero_calibrate 采集）。含义：各通道实测零点相对 CURRENT_OFFSET
// 基准的偏差（V），采样换算时逐通道扣除，吸收 REF 中点偏差、AGND/PGND 地差
// 与 INA 失调。初始 0 = 未配平（按标称零点换算）。
static float adc_zero_offset_v[3] = {0.0f, 0.0f, 0.0f};

/**
 * @brief 将电流 ADC 原始值换算为电流值
 * @param[in] raw_adc 注入组转换原始值
 * @param[in] ch 通道号 0/1/2 = U/V/W（逐通道扣除上电配平零点偏差）
 * @return float 返回值
 * @note 函数名沿用历史（_to_ma），实际返回单位是安培：MIN/MAX_CURRENT（±40）
 *       为安培阈值，cal_Iq_Id / CAN 上报处再 ×1000 转 mA。
 */
static inline float current_adc_to_ma(u16 raw_adc, u8 ch) {
	return (raw_adc * ADC_SCALE + CURRENT_OFFSET - adc_zero_offset_v[ch]) *
		   CURRENT_FACTOR;
}

// ADC1 连续转换运行标志：adc1_config() 启动后置位，
// adc1_read_raw() 据此判断是否需要暂停/恢复连续模式。
static bool adc1_continuous_active = false;

/*!
	\brief      configure the ADC1 peripheral（VBUS 连续转换 / DRV温度 单次轮询）
	\param[in]  none
	\param[out] none
	\retval     none
	\note ADC1 独占慢速量：ch6(VBUS) 连续转换，读取零等待；ch9(DRV NTC)
			由 adc1_read_raw() 按需暂停连续模式单次轮询。无 DMA、无中断，
			与 ADC0 的 PWM 同步注入组互不干扰（独立外设）。
			原实现每次读取都要"软件触发+死等EOC"：fast_voltage_check
			10kHz 调用，每次阻塞 ~1.5μs，纯浪费在等待上。
*/
void adc1_config(void) {
	/* enable ADC1 clock（ADC 时钟分频与 ADC0 共用 RCU 配置） */
	rcu_periph_clock_enable(RCU_ADC1);

	adc_deinit(ADC1);
	adc_mode_config(ADC_MODE_FREE);
	adc_data_alignment_config(ADC1, ADC_DATAALIGN_RIGHT);

	/* VBUS 单通道连续转换：软件触发一次后自持续 */
	adc_channel_length_config(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL, 1);
	adc_regular_channel_config(ADC1, 0, ADC_CHANNEL_6, ADC_SAMPLETIME_28POINT5);
	adc_external_trigger_source_config(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL,
									   ADC0_1_EXTTRIG_REGULAR_NONE);
	adc_external_trigger_config(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL, ENABLE);

	adc_enable(ADC1);
	/* ADC校准（校准完成后再进入连续模式，避免校准期间 CONT 位参与） */
	adc_calibration_enable(ADC1);
	adc_special_function_config(ADC1, ADC_CONTINUOUS_MODE, ENABLE);

	/* 启动连续转换并等待首个结果，保证 DR 立即有效 */
	adc_flag_clear(ADC1, ADC_FLAG_EOC);
	adc_software_trigger_enable(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL);
	while (adc_flag_get(ADC1, ADC_FLAG_EOC) == RESET) {
	}
	adc_flag_clear(ADC1, ADC_FLAG_EOC);
	adc1_continuous_active = true;
}

/*!
	\brief      零等待读取最新 VBUS 转换结果
	\retval    u16 最近一次完成转换的原始值
	\note 仅在 VBUS 连续模式运行时调用（主循环任务上下文）。
		  读 DR 硬件清 EOC，下一次完成转换会重新刷新 DR；两次读取之间
		  完成的转换被静默丢弃（F1 型 ADC 无溢出标志问题），
		  读到的值陈旧度 ≤1 个转换周期（41 周期 @30MHz ≈ 1.4μs）。
*/
u16 adc1_read_vbus_latest(void) {
	return (u16)adc_regular_data_read(ADC1);
}

/*!
	\brief      ADC1 单次软件触发转换并等待完成
	\param[in]  channel ADC 通道号（如 ADC_CHANNEL_9）
	\retval     u16 转换原始值（超时返回上次 RDATA 残留值）
	\note 仅在主循环任务上下文调用（所有任务由调度器串行派发，无并发，
	      与 fast_voltage_check / update_vbus_voltage 不会交错执行）。
	      单次转换约 41 周期 ≈ 1.4μs @30MHz ADC 时钟。
	      连续模式运行中调用时：暂停→单次转换→恢复，VBUS 流中断约 3~5μs。
*/
u16 adc1_read_raw(u8 channel) {
	const bool was_continuous = adc1_continuous_active;
	u16 timeout = 0;
	if (was_continuous) {
		adc_special_function_config(ADC1, ADC_CONTINUOUS_MODE, DISABLE);
		/* 先清 EOC 再等置位：连续模式下 EOC 常态置位（DR 久未读，
		 * 后续转换溢出丢失），直接等会观察到陈旧标志而另有转换在飞行中。
		 * 清除后观察到的置位必然来自"暂停瞬间在飞行中"的最后一次转换
		 * 完成后才置位——此时 ADC 真正静止，后续配置/触发不会再被
		 * 飞行中的转换干扰（SWSTART 被忽略、读到上一通道的 DR，
		 * 曾表现为 DRV 温度偶发出错）。超时兜底覆盖"暂停恰好落在
		 * 两次转换间隙"的无在飞行转换情形。 */
		adc_flag_clear(ADC1, ADC_FLAG_EOC);
		while (adc_flag_get(ADC1, ADC_FLAG_EOC) == RESET) {
			/* 超时只需覆盖一个转换周期（41 ADC 周期 ≈ 20 次循环），
			 * 仅"暂停恰好落在转换间隙"时才会走到超时 */
			if (++timeout > 100U) break;
		}
		adc_flag_clear(ADC1, ADC_FLAG_EOC);
	}

	adc_regular_channel_config(ADC1, 0, channel, ADC_SAMPLETIME_28POINT5);
	adc_software_trigger_enable(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL);
	timeout = 0;
	while (adc_flag_get(ADC1, ADC_FLAG_EOC) == RESET) {
		if (++timeout > 2000U) { // 硬件异常保护，避免死等
			break;
		}
	}
	u16 raw = (u16)adc_regular_data_read(ADC1);
	adc_flag_clear(ADC1, ADC_FLAG_EOC);

	if (was_continuous) {
		/* 恢复 VBUS 连续转换 */
		adc_regular_channel_config(ADC1, 0, ADC_CHANNEL_6,
								   ADC_SAMPLETIME_28POINT5);
		adc_special_function_config(ADC1, ADC_CONTINUOUS_MODE, ENABLE);
		adc_software_trigger_enable(ADC1, ADC_REGULAR_CHANNEL);
		/* 等恢复后的首个 ch6 转换完成并读走（清 EOC），
		 * 避免 vbus 零等待读取在接下来的 ~1.4μs 窗口内
		 * 读到 ch9 的残留值 */
		timeout = 0;
		while (adc_flag_get(ADC1, ADC_FLAG_EOC) == RESET) {
			if (++timeout > 2000U) break;
		}
		(void)adc_regular_data_read(ADC1);
	}
	return raw;
}

/*!
	\brief      configure the ADC0 peripheral（PWM 同步电流采样专用）
	\param[in]  none
	\param[out] none
	\retval     none
	\note       ADC0 只保留 injected 组，regular 组整体移除：
				此前 regular 连续扫描与 injected 触发抢占同一 ADC，注入打断后
				regular 从头重启而 DMA 不复位导致数据错位，且温度长采样被打断后
				采样电容残余污染注入组首通道。移除 regular 后注入组再无打断源。
*/
void adc_config(void) {
	/* 电流采样引脚配模拟输入：U/V/W = PA3/PA4/PA5（ADC0_IN3/4/5）。
	 * 手册要求 ADC 引脚必须配 AIN——复位默认浮空输入态下数字输入缓冲器
	 * 挂在引脚上，静态 1.65V 中点正处于线性区，开关噪声环境下会向引脚
	 * 注入电荷、污染 13.5 周期短采样窗口（v1 外置放大链下凑合未暴露）。
	 * 顺手关掉该三脚的数字输入缓冲（低功耗&抗扰）。 */
	rcu_periph_clock_enable(RCU_GPIOA);
	gpio_init(GPIOA, GPIO_MODE_AIN, GPIO_OSPEED_2MHZ,
			  GPIO_PIN_3 | GPIO_PIN_4 | GPIO_PIN_5);

	/* enable ADC clock */
	rcu_periph_clock_enable(RCU_ADC0);
	/* config ADC clock（ADC0/ADC1 共用分频：120MHz/4 = 30MHz） */
	rcu_adc_clock_config(RCU_CKADC_CKAPB2_DIV4);

	/* 复位ADC */
	adc_deinit(ADC0);
	/* ADC模式配置 */
	adc_mode_config(ADC_MODE_FREE);
	/* 扫描模式：注入序列内 4 通道触发后自动连续转换 */
	adc_special_function_config(ADC0, ADC_SCAN_MODE, ENABLE);
	/* ADC数据右对齐配置 */
	adc_data_alignment_config(ADC0, ADC_DATAALIGN_RIGHT);
	/* 使能ADC温度传感器（内部通道仅连接 ADC0 的 ch16/ch17） */
	adc_tempsensor_vrefint_enable();

	/* injected 组：rank0=U, rank1=V, rank2=W, rank3=MCU温度，TIMER1 TRGO 触发。
	 * 电流通道用最短 13.5 周期采样（INA240 低阻输出足以驱动采样电容）：
	 * 每通道 26 周期，U/V/W 的采样保持窗末端仅滞后触发点 0.45/1.32/2.18µs
	 * （54/158/262 个计数），三相样本整体压进下管导通窗头部，最大占空比
	 * ~90% 时仍全部有效；温度通道 ch16 高内阻按手册仍需 239.5 周期，挂尾部。
	 * 整段 26×3+252 = 330 周期 = 11µs。
	 * 触发点紧贴计数峰顶（见 config.h）：中心对齐下 CH3 每周期匹配两次
	 * （上升沿 2989 / 下降沿 3011，仅差 22 计数），无论第二次触发是被 ADC
	 * 忽略（注入忙）还是重启序列，帧的等效采样位置都贴着峰顶——三相下管
	 * 同时导通窗的正中，帧率 20kHz 与控制环同频。
	 * 序列空闲期采样电容挂在温度通道(~1.3V)，U 相(ch3 运放低阻输出)的
	 * 13.5 周期保持窗足以完成重建。 */
	adc_channel_length_config(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL, 4);
	adc_inserted_channel_config(ADC0, 0, ADC_CHANNEL_3, ADC_SAMPLETIME_13POINT5);
	adc_inserted_channel_config(ADC0, 1, ADC_CHANNEL_4, ADC_SAMPLETIME_13POINT5);
	adc_inserted_channel_config(ADC0, 2, ADC_CHANNEL_5, ADC_SAMPLETIME_13POINT5);
	adc_inserted_channel_config(ADC0, 3, ADC_CHANNEL_16,
								ADC_SAMPLETIME_239POINT5);
	adc_external_trigger_source_config(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL,
									   ADC0_1_EXTTRIG_INSERTED_T1_TRGO);
	adc_external_trigger_config(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL, ENABLE);

	/* 使能ADC接口 */
	adc_enable(ADC0);
	/* ADC校准 */
	adc_calibration_enable(ADC0);
	/* injected 完成中断负责搬运完整三相样本与温度原始值 */
	adc_interrupt_enable(ADC0, ADC_INT_EOIC);
}
/**
 * @brief 采样类初始化
 */
u8 sampler::init() {
	adc_config();  // ADC0：PWM 同步注入组（U/V/W + MCU温度）
	adc1_config(); // ADC1：VBUS / DRV温度 慢速轮询
	current_sample_head = 0;
	adc_current_frame_ready = 0;
	delay_1ms(1);

	const float current_init = current_adc_to_ma(
		static_cast<u16>((-CURRENT_OFFSET / ADC_SCALE) + 0.5f), 0); // 配平前按标称零点
	// 初始采样
	for (int i = 0; i < ADC_FILTER_SIZE; i++) {
		mcu_temp_samples[i] =
			(1.43f - adc_mcu_temp_raw * ADC_SCALE) * TEMP_FACTOR + 35.0f;

		currU_samples[i] = current_init;
		currV_samples[i] = current_init;
		currW_samples[i] = current_init;

		vbus_samples[i] = adc1_read_vbus_latest() * ADC_SCALE * VCC_FACTOR;

		const float drv_raw = (float)adc1_read_raw(ADC_CHANNEL_9);
		float R_now = drv_raw / (4096 - drv_raw) * 4700;
		drv_temp_samples[i] =
			1.0f / (0.00335f + 0.00025f * log(R_now / 10000.0f)) - 273.15f;
		delay_1ms(1);
	}
	return 0;
}
// ---- 三相电流零点配平（上电一次，hardware_init 在 gate_driver_bringup 之后调用） ----
// 必须在门驱动唤醒后进行：DRV8323 板唤醒后 INLx=DRVSLP 常高，0% 占空比下
// 三相下管导通、采样电阻经下管接地，INA240 输入有确定共模（0V），输出即
// 真实零点；若在芯片睡眠 Hi-Z 时采样，下管源极悬空，INA240 IN+ 浮空会把
// 输出拉到轨，配平值无效（老板下管常通，两种时序均有效，但统一放后面）。
// 采集 N 帧均值作为每通道零点偏差（V，相对 CURRENT_OFFSET 基准），折算
// 电流超过 CURRENT_ZERO_CAL_LIMIT 视为电流检测初始化错误。

/**
 * @brief 三相电流零点配平并校验
 * @return u8 0=成功；1=无采样帧（ADC/触发链路异常）；
 *            2=配平值超过 CURRENT_ZERO_CAL_LIMIT（电流检测初始化错误）
 * @note 阻塞约 15ms（跳过 5ms 上电瞬态 + 采集 200 帧 @20kHz），仅限
 *       hardware_init 上下文调用（看门狗在其后才初始化，无喂狗需求）。
 *       main 循环尚未启动，期间 EOIC 中断只刷新 adc_current_value，
 *       不会与 update_current 并发写环形缓冲。
 */
u8 sampler::zero_calibrate(void) {
	delay_1ms(5); // 跳过上电瞬态（INA 建立、驱动使能稳定），≈100 帧

	u32 zero_acc[3] = {0, 0, 0};
	const u16 ZERO_CAL_FRAMES = 200;
	for (u16 i = 0; i < ZERO_CAL_FRAMES; i++) {
		u32 timeout = 0;
		while (adc_current_frame_ready == 0U) {
			/* 帧周期 50µs，超时覆盖 ~30ms 无帧：ADC/触发链路异常 */
			if (++timeout > 600000U) {
				printf("[ADC] zero cal fail: no sample frame\r\n");
				return 1;
			}
		}
		zero_acc[0] += adc_current_value[0];
		zero_acc[1] += adc_current_value[1];
		zero_acc[2] += adc_current_value[2];
		adc_current_frame_ready = 0U;
	}

	u8 result = 0;
	printf("[ADC] zero cal:");
	for (u8 ch = 0; ch < 3U; ch++) {
		/* 实测零点偏差（V）= 样本均值电压 + CURRENT_OFFSET 基准 */
		adc_zero_offset_v[ch] =
			((float)zero_acc[ch] / (float)ZERO_CAL_FRAMES) * ADC_SCALE +
			CURRENT_OFFSET;
		/* 配平值折算电流（A）超限 → 电流检测初始化错误 */
		float offset_a = adc_zero_offset_v[ch] * CURRENT_FACTOR;
		printf(" %c=%dmA", "UVW"[ch], (int)(offset_a * 1000.0f));
		if (offset_a > CURRENT_ZERO_CAL_LIMIT ||
			offset_a < -CURRENT_ZERO_CAL_LIMIT) {
			result = 2;
		}
	}
	if (result == 2) {
		printf(" -> over limit, current sense init error\r\n");
	} else {
		printf(" ok\r\n");
	}
	return result;
}

/**
 * @brief 获取MCU温度
 * @return float
 * 温度值，单位为摄氏度，范围应在-40到145之间，如果读取失败则返回0.0f
 */
float sampler::get_mcu_temp() {
	return cached_mcu_temp;
}

/**
 * @brief 获取电机驱动温度
 * @return float 温度值，单位为摄氏度
 *
 * 通过热敏电阻分压电路计算温度值，使用Steinhart-Hart方程进行温度转换。
 * 如果计算结果超出有效范围(-40到255摄氏度)，则重新采样计算。
 */
float sampler::get_drv_temp() {
	return cached_drv_temp;
}

/**
 * @brief 获取电流值
 * @param type 电流类型，'U'表示U相电流，'V'表示V相电流，'W'表示W相电流
 * @return float 电流值，单位为安培
 *
 * 通过ADC采样计算各相电流值
 */
float sampler::get_current(char type) {
	u8 idx = (current_sample_head == 0U) ? (ADC_FILTER_SIZE - 1U)
										 : (current_sample_head - 1U);
	switch (type) {
	case 'U': {
		tempora_sample = currU_samples[idx];
		break;
	}
	case 'V': {
		tempora_sample = currV_samples[idx];
		break;
	}
	case 'W': {
		tempora_sample = currW_samples[idx];
		break;
	}
	default: {
		return ERROR_ADC_VAL;
	}
	}
	if (tempora_sample < MIN_CURRENT or tempora_sample > MAX_CURRENT) {
		return ERROR_ADC_VAL;
	}

	return tempora_sample;
}

/**
 * @brief 获取供电电压
 * @return float 电压值，单位为伏特
 *
 * 通过ADC采样计算供电电压值，使用迭代方式确保获取有效的电压读数。
 * 如果计算结果超出有效范围(-40到255伏特)，则重新采样计算。
 */
float sampler::get_vbus_voltage() {
	return cached_vbus;
}

/**
 * @brief 更新MCU温度
 *
 * 通过ADC采样计算MCU温度值，使用Steinhart-Hart方程进行温度转换。
 * 如果计算结果超出有效范围(-40到255摄氏度)，则重新采样计算。
 */
void sampler::update_mcu_temp() {
	// 环形缓冲区写入，替代 memmove
	mcu_temp_samples[mcu_temp_head] =
		(1.43f - adc_mcu_temp_raw * ADC_SCALE) * TEMP_FACTOR + 35.0f;
	mcu_temp_head++;
	if (mcu_temp_head >= ADC_FILTER_SIZE) mcu_temp_head = 0;

	// 更新缓存：中值滤波
	tempora_sample = medium_filter(mcu_temp_samples, ADC_FILTER_SIZE);
	if (tempora_sample < MIN_TEMP || tempora_sample > MAX_TEMP) {
		cached_mcu_temp = ERROR_ADC_VAL;
	} else {
		cached_mcu_temp = tempora_sample;
	}
}

/**
 * @brief 更新MCU温度
 */
void sampler::update_drv_temp() {
	// ADC1 单次轮询转换 ch9（NTC 分压，低阻源）
	const float drv_raw = (float)adc1_read_raw(ADC_CHANNEL_9);
	// 环形缓冲区写入，替代 memmove
	float R_now = drv_raw / (4096 - drv_raw) * 4700;
	drv_temp_samples[drv_temp_head] =
		1.0f / (0.00335f + 0.00025f * log(R_now / 10000.0f)) - 273.15f;
	drv_temp_head++;
	if (drv_temp_head >= ADC_FILTER_SIZE) drv_temp_head = 0;

	// 更新缓存：中值滤波
	tempora_sample = medium_filter(drv_temp_samples, ADC_FILTER_SIZE);
	if (tempora_sample < MIN_TEMP || tempora_sample > MAX_TEMP) {
		cached_drv_temp = ERROR_ADC_VAL;
	} else {
		cached_drv_temp = tempora_sample;
	}
}

/**
 * @brief 更新相电流
 */
void sampler::update_current() {
	if (adc_current_frame_ready == 0U) {
		return;
	}

	const u8 idx = current_sample_head;
	currU_samples[idx] = current_adc_to_ma(adc_current_value[0], 0);
	currV_samples[idx] = current_adc_to_ma(adc_current_value[1], 1);
	currW_samples[idx] = current_adc_to_ma(adc_current_value[2], 2);

	current_sample_head++;
	if (current_sample_head >= ADC_FILTER_SIZE) {
		current_sample_head = 0;
	}
	adc_current_frame_ready = 0U;
}

/**
 * @brief 更新供电电压
 */
void sampler::update_vbus_voltage() {
	// ADC1 连续模式零等待读最新 VBUS（ch6，电阻分压，低阻源）
	// 环形缓冲区写入，替代 memmove
	vbus_samples[temp_vbus_head] =
		adc1_read_vbus_latest() * ADC_SCALE * VCC_FACTOR;
	temp_vbus_head++;
	if (temp_vbus_head >= ADC_FILTER_SIZE) temp_vbus_head = 0;

	// 更新缓存：中值滤波 + 范围检查
	tempora_sample = medium_filter(vbus_samples, ADC_FILTER_SIZE);
	const u8 mid = ADC_FILTER_SIZE / 2;
	if (vbus_samples[mid] > MAX_VCC || vbus_samples[mid] < MIN_VCC) {
		cached_vbus = ERROR_ADC_VAL;
	} else {
		cached_vbus = tempora_sample;
	}
}

/**
 * @brief ADC0_1_IRQHandler 中断处理函数
 * @return void
 */
extern "C" void ADC0_1_IRQHandler(void) {
	if (adc_interrupt_flag_get(ADC0, ADC_INT_FLAG_EOIC) != RESET) {
		/* rank0/1/2 = U/V/W 同一 PWM 时刻样本，rank3 = MCU温度（序列尾部） */
		adc_current_value[0] = adc_inserted_data_read(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL_0);
		adc_current_value[1] = adc_inserted_data_read(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL_1);
		adc_current_value[2] = adc_inserted_data_read(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL_2);
		adc_mcu_temp_raw = adc_inserted_data_read(ADC0, ADC_INSERTED_CHANNEL_3);
		adc_current_frame_ready = 1U;
		adc_interrupt_flag_clear(ADC0, ADC_INT_FLAG_EOIC);

		extern TaskScheduler scheduler;
		scheduler.taskFlags |= (1u << TASK_CURRENT_UPDATE);
	}
}